فعالیت های حسگر مواد صبا

آزمایشگاه تحقیقاتی حسگر مواد صبا در سال ۹۴ با هدف پاسخگویی به نیاز روز افزون جامعه علمی کشور به بررسی های آنالیزی با دقت و صحت بالا با گروهی متشکل از متخصصینی با سابقه ی طولانی چندین ساله در حوزه های مختلف آنالیزی و فنی آغاز به کار نمود

fo1

ارائه خدمات آنالیز

شناسایی و آنالیز مواد مختلف معلوم و مجهول بررسی های کمی و کیفی مواد و بررسی های شیمیایی و فیزیکی نانوذرات

poshtibani

پشتیبانی فنی

پشتیبانی فنی اعم از عیب یابی و تعمیر انواع دستگاه های آنالیزی و تامین قطعات و تجهیزات مورد نیاز آنها 

pajhoohesh

پژوهش و تحقیقات

همکاری با مراکز علمی و آموزش عالی و انجام پروژه های پژوهشی و همچنین ساخت سنسورهای گازهای مختلف

تفرق پرتوی ایکس

اجسام اطراف خود را ما میتوانیم ببینیم زیرا نور توسط اجسام متفرق  می گردد و به چشم ما وارد می شود. بطور مشابه, پرتوهای ایکس تفرق یافته توسط اتمها سبب میشود که ما آرایش اتم ها در جامدات بدانیم.

درسال 1912 دانشمندی بنام وان لاوه فرض کرد که اگر پرتوهای ایکس بصورت امواج باشند و فواصل بین اتم ها در جامدات قابل مقایسه با طول موج پرتو ایکس باشد , پس این امواج باید توسط اتم ها در جامدات متفرق شوند. یک اصل مهم تداخل پرتوهای تفرق یافته است اگر پرتوهای تفرق یافته همفاز یا ناهمفاز  باشد ,فراوانی آنها با هم جمع میشوند و یا اثر یکدیگر را از بین میبرند حتی اگر هیچ رابطه فازی بین اتم ها وجود نداشته باشد شدت ها بسادگی با هم جمع میشوند .

بعنوان مثال یک مجموعه ای از N  اتم گازی را در یک ظرف بسته در نظر بگیرید این مجموعه بدلیل حرکت پیوسته گاز هیچ آرایش منظمی ندارد. شدت پراکنده شده توسط یک اتم متناسب با مربع بزرگی پرتوهاست. اگر A بزرگی پرتوهای برخوردی باشد , پس شدت پراکندگی توسط هر پرتو A 2  خواهد بود. از طرف دیگر اگر رابطه ای بین فازهای N  اتم , که هریک موجی به بزرگی A  را پراکنده می کند, وجود داشته باشد , پس بزرگیها با هم جمع خواهند شد تا بزرگی کل NA  را بدهند. شدت توسط N2A2  بدست می آید.

لاوه و همکارانش در سال 1912  در مقابل یک تک بلور cuso4  یک صفحه عکاسی قرار دادند و اجازه دادند پرتوهایی از اشعه ایکس از داخل بلور عبور کند و لکه های پراش بروی صفحه عکاسی قابل مشاهده شد از طرف دیگر براگ و پسرش نیز ساختار تعدادی از بلورهای NaCl, KCl, KBr  را مطالعه کردند .این روش ها همچنان برای مطالعه بلورها مورد استفاده قرار میگیرد.

 

 

توضیح قانون تفرق براگ

براگ فرض کرد که پرتوهای موازی از اشعه X  روی صفحه های بلور در نقاط برخوردی θ میتابد در واقع زمانیکه منبع به فاصله بسیار دوری در مقایسه با فاصله بین پرتوهای تداخل کننده برده می شود میتوان تصور کرد که اشعه ها بصورت اشعه های موازی خواهند بود . همانطور که در شکل مشاهده میکنید اشعه های موازی ایکس شامل پرتوهای AO , BP  میباشد و به ترتیب به اتم های  O ,P  برخورد میکنند و زاویه θ را تشکیل میدهند و سپس بصورت OA`  و PB`  متفرق میشوند .فاصله بین O, P فاصله بین صفحات متوالی میباشد که با d  نشان میدهند.

اختلاف مسیر =MP+PN=2OP sinθ =2d sinθ

 

11

توضیح هندسی تفرق توسط اشغه ایکس

 

 

 

اگر λ یا چند λ اختلاف فاصله بین پرتوهای AOA` و  BPB`  باشد میتواند تقویت شود و یا با هم تداخل کنند.بنابراین

N= 1,2 ,3 …..            nλ=2dsinθ

N مرتبه تفرق است

حالا پرتوهای موازی  AO  و Al   را که روی اولین ردیف از اتمها در زاویه برخوردی θ    می تابند و پرتوهای متفرق شده OA`  و La`  در شکل مشخص است را درنظر بگیرید .پرتوهای  OA`  و La`  نیز با یکدیگر موازی هستند و میتوانند یکدیگر را تقویت کنند .بنابراین تمام اتم های سطح که  تابش را با زاویه θ دریافت میکنند بصورت سازنده تداخل میکنند.

اختلاف مسیر =ML-ON =OL cos θ –OL cos θ =0

 22

نمای تفرق از اتم ها

حال پرتوهای AOA` , CQC`  را در نظر بگیرید

که از اولین و سومین صفحه متفرق میشوند.

= MQ`+QN`=2dsin θ+2d sinθ= 4d sinθ                                                     اختلاف مسیر       

 

برای اینکه اشعه ها بطور سازنده تقویت شوند آنها باید مضرب هایی از طول موج باشند و اگر اختلاف مسیر باشد پس میتوان گفت    

 

 

    2λ= 4d sinθ                     λ=2dsinθ

برای اینکه اشعه هایAOA` ,DRD`  در یک جهت تداخل کنند باید اختلاف مسیرشان λ3 باشد و به همین ترتیب ادامه میابد.بنابراین پرتوهای تفرق یافته در یک جهت توسط اشعه هایی که در صفحات مختلف هستند همگی تقویت میشوند تا تداخل سازنده ای را ایجاد کنند.

 333

اشعه های پراکنده شده از صفحات مختلف در یک جهت تداخل سازنده

آنالیز XRD

پراش پرتو ایکس

 60 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز XRD

آنالیز BET

اندازه گیر سطح ویژه

 120 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز BET

آنالیز ICP-OES

پلاسمای جفت شده القایی

 100 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز ICP-OES

آنالیز ICP-MS

طیف سنجی جرمی با پلاسمای جفت القائی

 250 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز ICP-MS

آنالیز GC-MS

كروماتوگرافي گازي – طيف سنج جرمي

 200 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز GC-MS

آنالیز SEM

میکروسکوپ الکترونی روبشی

 200 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز SEM

آنالیز FTIR

طیف‌سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز

 20 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز FTIR

آنالیز HPLC

کروماتوگرافی مایع با کارایی بالا

 120 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز HPLC

آنالیز UV-VIS

طیف نگاری جذبی طیف های فرابنفش و مرئی

 20 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز UV-VIS

آنالیز XRF

فلورسانس پرتو ایکس

100 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز XRF

آنالیز LC-MS-MS

کروماتوگرافی مایع - طیف سنجی جرمی

 300 هزار تومان  

فرم پذیرش آنالیز LC-MS-MS

مجموعه مقالات

  • تئوری بی ای تی (BET theory):

    تئوری بی ای تی در جذب سطحی مواد جامد مطرح می شود.یکی از کاربرد های مهم این تئوری...

    ادامه مطلب

    روش آنالیز BET:

    این روش برای اندازه گیری مساحت ویژه و چگالی نانولوله ها استفاده می شود. اصول کار با این دستگاه...

    ادامه مطلب

    جذب سطحی:

    جذب سطحی، فرایند چسبیدن اتم ها، یون ها، بیو مولکول ها، یا مولکول های گاز، مایع و یا جامد حل شده به سطح می باشد...

    ادامه مطلب

    تجزیه و کاتالیزورها:

    کاتالیزورها (آنزیم) مهم ترین بخش از چرخه زندگی روی زمین در مراحل تشکیل ، رشد و پوسیدگی هستند. تجزیه کاتالیزوری در فرآیندهای تبدیل انرژی خورشید به اشکال مختلف دیگر از انرژی مورد استفاده قرار میگیرد

    ادامه مطلب

  • پراش اشعه ایکس XRD

    برای فهم بهتر اصول بنیادی و واژه‌های تخصصی پراش پرتو ایکس یا X-Ray Diffraction اجازه دهید...

    ادامه مطلب

    کاربردهای XRD

    آنالیز XRD یا روش پراش پرتو ایکس، روشی برای تعیین فازها و ساختار کریستالی مواد است. از این روش برای...

    ادامه مطلب

    کاربردهای XRD

    طیف ­سنجی پراش پرتو ایکس، یک تکنیک سریع آنالیزی است که برای تشخیص نوع مواد و همچنین...

    ادامه مطلب

    طیف ایکس آر دی در آزمایشگاه تحقیقاتی حسگر مواد صبا

    نمونه تحلیل دستگاه XRD آزمایشگاه تحقیقاتی حسگر مواد صبا...

    ادامه مطلب

    تعیین فازهای سیمان با استفاده از XRD

    استفاده از روش های مدرن آنالیز، همانند پراش پرتوی ایکس وRietveld امکان تشخیص سریع و کنترل مناسب تغییرات در ترکیب کلینگر(دانه‌های حرارت دیده‌ای است، که معمولا...

    ادامه مطلب

    درصد بلورینگی و اندازه ذرات الیاف سلولزی توسط XRD

    سلولز با فرمول شیمیایی C6H10O5)n( و با چگالی 1.5 گرم بر سانتیمتر مکعب یکی از مهم ترین پلیمرهای طبیعی است و به عنوان یک ماده خام پایان ناپذیر، مادهای زیست سازگار و در مقیاس صنعتی است. این ماده سال هاست که...

    ادامه مطلب

    رنگدانه یا پیگمنت؛ بررسی خواص و دسته بندی

    معمولا مواد رنگی را به دو دسته پیگمانها ( رنگدانه‌ها ) و رنگها طبقه ‌بندی می‌کنند. رنگدانه با رنگ متفاوت می‌باشد. تفاوت آنها در این است که رنگ بایستی توسط ماده مورد رنگرزی جذب شود در حالیکه رنگدانه فقط سطح جسم را رنگی می‌کند...

    ادامه مطلب

    آماده سازی نمونه XRD برای کانی های رسی

    شناسایی کانی ها یکی از راههای شناخت بهتر خصوصیات خاک میباشد. بسیاری از خصوصیات فیزیکی و شیمیایی خاک تحت تاثیر نوع و مقدار کانی ها، خصوصا کانی های رسی است. تعیین نوع کانی های رسی...

    ادامه مطلب

    زئولیت ها تعیین کریستالیته با استفاده از XRD

    زئولیت‌ها بلورهای آلومینوسیلیکاتی هستند که به دلیل داشتن خاصیت کاتالیستی، تعویض یونی و غربال مولکولی کاربرد گسترده‌ای در صنایع شیمیایی دارند. در سال‌های اخیر سنتز زئولیت با اندازه‌ی بلوری کوچکتر به دلیل بهبود خواص...

    ادامه مطلب

    کانی آزبست و خطرات آن

    آزبست نام گروهی از ترکیب‌های معدنی منیزیم و سیلیسیوم است که اغلب در طبیعت به صورت الیاف معدنی و سنگ یافت می‌شود. این مواد به خاطر مقاومت زیادی که در برابر گرما و آتش دارند به عنوان مواد نسوز بکار می‌روند.نخستین بار...

    ادامه مطلب

آدرس تهران:

              طرشت، میدان شهید تیموری، خیابان لطفعلی خانی

              انتهای خیابان پارس، خیابان ذوقی، پلاک 22، واحد 2

  کد پستی:

                                                       1459873176                        

تلفن تماس:

                                02166553834   02166519666

                                                       0912-2199232

 

فکس:

                                                     02166553834